/
Nat Methods
Understanding metric-related pitfalls in image analysis validation
- A. Reinke
- M.D. Tizabi
- M. Baumgartner
- M. Eisenmann
- D. Heckmann-Nötzel
- A.E. Kavur
- T. Rädsch
- C.H. Sudre
- L. Acion
- M. Antonelli
- T. Arbel
- S. Bakas
- A. Benis
- F. Buettner
- M.J. Cardoso
- V. Cheplygina
- J. Chen
- E. Christodoulou
- B.A. Cimini
- K. Farahani
- L. Ferrer
- A. Galdran
- B. van Ginneken
- B. Glocker
- P. Godau
- D.A. Hashimoto
- M.M. Hoffman
- M. Huisman
- F. Isensee
- P. Jannin
- C.E. Kahn
- D. Kainmueller
- B. Kainz
- A. Karargyris
- J. Kleesiek
- F. Kofler
- T. Kooi
- A. Kopp-Schneider
- M. Kozubek
- A. Kreshuk
- T. Kurc
- B.A. Landman
- G. Litjens
- A. Madani
- K. Maier-Hein
- A.L. Martel
- E. Meijering
- B. Menze
- K.G.M. Moons
- H. Müller
- B. Nichyporuk
- F. Nickel
- J. Petersen
- S.M. Rafelski
- N. Rajpoot
- M. Reyes
- M.A. Riegler
- N. Rieke
- J. Saez-Rodriguez
- C.I. Sánchez
- S. Shetty
- R.M. Summers
- A.A. Taha
- A. Tiulpin
- S.A. Tsaftaris
- B. Van Calster
- G. Varoquaux
- Z.R. Yaniv
- P.F. Jäger
- L. Maier-Hein